材料物理结构分析仪器
台式扫描电子显微镜
点击次数:次 日期:2023-02-28
型 号:Phenom XL-SE-G2
生产厂家:Phenom-World BV(荷兰)
技术指标:光学放大3-16X;
电子光学放大80-100000X;分辨率优于10nm;
数字放大:Max12X;彩色光学导航相机;
加速电压:5kV-20kV,连续可调;
高分辨率模式、降低荷电效应模式、高真空模式;
探测器:背散射探测器、二次电子探测器;
样品台尺寸:X100mm*Y100mm*Z60mm。
用 途:可进行材料表面的高倍率观察及高精度元素分析,在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。
仪器照片: