材料物理结构分析仪器

台式扫描电子显微镜

点击次数:次 日期:2023-02-28

       号:Phenom XL-SE-G2

生产厂家:Phenom-World BV(荷兰)

技术指标:光学放大3-16X;

电子光学放大80-100000X;分辨率优于10nm;

数字放大:Max12X;彩色光学导航相机;

加速电压:5kV-20kV,连续可调;

高分辨率模式、降低荷电效应模式、高真空模式;

探测器:背散射探测器、二次电子探测器;

样品台尺寸:X100mm*Y100mm*Z60mm。

   途:可进行材料表面的高倍率观察及高精度元素分析,在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。

仪器照片: